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(电子元器件测量环境要求)

对电子元件检测,CT扫描比较合适,原理是利用精确准直的X线束γ射线超声波等,与灵敏度极高的探测器一同围绕电子元件作一个接一个的断面扫描,具有扫描时间快,图像清晰等特点。

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