HAST全称为HighlyAcceleratedStressTest，也是一种加速老化试验的方法它是在高温高湿的环境下进行，其加速老化的速度比PCT更快HAST试验通常用于测试封装材料半导体器件电子元器件等的性能，检测其是否能承受高温高湿的环境个人经验PCT和HAST试验都是常见的加速老化试验方法，但具体选择...